Microscopic identification of electronic defects in semiconductors - symposium held April 15-18, 1985, San Francisco, California, U.S.A
- Författare
- (Editors, Noble M. Johnson, Stephen G. Bishop, George D. Watkins.)
- Genre
- Konferenspublikation, Bibliografi
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Materials Research Society | cop. 1985 | USA, Pittsburgh, Pa | xv, 604 sidor. ill. |